Laufende Arbeiten

Titel der ArbeitBearbeiter/in
Simulationsgestützte Anaylse von Fehlereinflüssen bei der Charakterisierung ohmscher Kontakte auf 4H-SiC mittels CBKR-Teststrukturen (Masterarbeit)Fabian Schellenberger
Simulation und Kalibrierung von TLM-Teststrukturen zur präzisen Charakterisierung von ohmschen Kontakten auf  p-dotiertem 4H-SiC (Bachelorarbeit)Lukas Regler
Optimierung von Abkühlprozessen in der Kristallzüchtung (Bachelorarbeit)Daniel-Sebastian Nastasa
Elektrische Charakterisierung und vergleichende Analyse von MAGFET-Designs in einer 4H-SiC-CMOS-Technologie (Masterarbeit)Pedram Sarmadi
Investigation of correlations between process data, test structure properties and device caracteristics of MOSFETs via machine learning models (Masterarbeit)Zhifeng Huang
Evaluation der Konduktanz-Methode zur Bestimmung der Grenzflächenzustandsdichten von 4H-SiC-basierten MOS-Strukturen (Bachelorarbeit)Lukas F.(reserviert)
Elektrische Charakterisierung von Hochtemperaturdegradation in vertikalen SiC Trench-pin-Dioden (Bachelorarbeit)Daniel Ramig
Modelling the solubility of inorganic compounds under hydrothermal and ammonothermal conditions using reduced fluid properties (Forschungsarbeit)Maitri Bharatbhai Savani
Structural analysis and failure assessment of optical cell windows in ammonothermal method (Forschungsarbeit)Sai Kumar Eedupalli
Development of a Python-based tool for the spatially resolved evaluation of X-ray images for determining concentration maps of solutes in ammonothermal experiments with optical cells (Forschungsarbeit)Manan Rupesh Nandwana
Development of numerical models for analyzing a concept for a hermetically sealed silver liner for ammonothermal autoclaves (Forschungsarbeit)Ravi Jayantibhai Domadiya
Validation and optimization of a numerical model for heat and mass transport in a multi-zone furnace for the ammonothermal crystal growth (Masterarbeit)Geng Chongwei
Advancement of a highly improved autoclave purification process for the ammonothermal growth of high-purity nitrides  (Masterarbeit)Yi Wei
Modellierung mikrospektroskopischer Reflektanz- und Transmittanzmessungen zur Brechungsindex-Bestimmung  (Masterarbeit)Johannes Bauer
Design of 4H SiC CMOS logic gates and sequential circuits (Forschungsarbeit)Vishvas Nanjunda Swamy
Untersuchung von SiC Material- und Bauelementeeigenschaften bei kryogenen Temperaturen  (Masterarbeit)Elena Hobbacher