Simulationsgestützte Anaylse von Fehlereinflüssen bei der Charakterisierung ohmscher Kontakte auf 4H-SiC mittels CBKR-Teststrulturen

Art der Arbeit

Masterarbeit

Bearbeiter

Fabian Schellenberger

Beschreibung der Arbeit

Wird in Kürze eingestellt.

Ansprechpartner

Ley, Maximilian (IISB, maximilian.ley@iisb.fraunhofer.de)

Rommel, Mathias (IISB, mathias.rommel@iisb.fraunhofer.de)

Prof. Dr.-Ing. habil. Jörg Schulze