Simulationsgestützte Anaylse von Fehlereinflüssen bei der Charakterisierung ohmscher Kontakte auf 4H-SiC mittels CBKR-Teststrulturen
Art der Arbeit
Masterarbeit
Bearbeiter
Fabian Schellenberger
Beschreibung der Arbeit
Wird in Kürze eingestellt.
Ansprechpartner
Ley, Maximilian (IISB, maximilian.ley@iisb.fraunhofer.de)
Rommel, Mathias (IISB, mathias.rommel@iisb.fraunhofer.de)
Prof. Dr.-Ing. habil. Jörg Schulze