Simulation und Kalibrierung von TLM-Teststrukturen zur präzisen Charakterisierung von ohmschen Kontakten auf  p-dotiertem 4H-SiC 

Art der Arbeit

Bachelorarbeit

Bearbeiter

Lukas Regler

Beschreibung der Arbeit

Wird in Kürze eingestellt.

Ansprechpartner

Ley, Maximilian (IISB, maximilian.ley@iisb.fraunhofer.de)
Prof. Dr.-Ing. habil. Jörg Schulze