MA: Investigation of correlations between process data, test structure properties and device caracteristics of MOSFETs via machine learning models
Bearbeiter
Zhifeng Huang
Art der Arbeit
Masterarbeit
Beschreibung
Wird in Kürze eingestellt.
Status
laufend
Kontakt
Rommel, Mathias
Dr.-Ing. Saskia Schimmel
Wissenschaftliche Mitarbeitende
Kontakt
- E-Mail: saskia.schimmel@fau.de
Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze
Professorinnen und Professoren
Kontakt
- E-Mail: joerg.schulze@fau.de