Erforscht werden moderne Bauelementkonzepte, die eine effiziente Steuerung und Umwandlung elektrischer Energie ermöglichen. Neben der Optimierung von Bauelementparametern wie z.B. der Minimierung von Schaltgeschwindigkeiten, Verringerung des Widerstands im leitfähigen Zustand oder der Erhöhung von Spannungsfestigkeit und Stromtragfähigkeit werden systematische Untersuchungen zum Einfluss von Defekten auf Ausbeute und Zuverlässigkeit der Bauelemente durchgeführt.

Aktuelle Forschungsthemen:

• Funktionalisierung des Tunneleffekts für Leistungstransistoren (Jan Dick)
• Untersuchung von fortschrittlichen Konzepten von SiC-MOS-Leistungstransistoren mit Grabenstrukturen (Power Trench MOSFETs) (Stephan Kühn)
• Charakterisierung und Bewertung von Materialdefekten im Hinblick auf Ausbeute und Zuverlässigkeit von SiC-MOS-Leistungstransistoren mit Grabenstrukturen (Power Trench MOSFETs) (Nadja Kölbel)

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