Dr.-Ing. Norman Böttcher
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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2024
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Analytical Modelling of the Quasi-Static Operation of a Monolithically Integrated 4H-SiC Circuit Breaker Device
In: Solid State Phenomena 360 (2024), p. 111-118
ISSN: 1012-0394
DOI: 10.4028/p-EkvC4B - , , , , , :
Investigation of Ohmic Contacts and Resistances of a 4H-SiC CMOS Technology up to 550◦C
In: Journal of Microelectronics and Electronic Packaging 21 (2024), p. 73-79
ISSN: 1551-4897
DOI: 10.4071/001c.127390 - , , , , :
Fast Estimation of the Lateral Fidelity of Ion Implantation in 4H-SiC through Calibration to JFET Transfer Characteristics in TCAD
In: Solid State Phenomena 358 (2024), p. 133-140
ISSN: 1012-0394
DOI: 10.4028/p-4Rj3jY
2023
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Adjustable Current Limiting Function with a Monolithically Integrated SiC Circuit Breaker Device
In: IEEE Transactions on Industry Applications 59 (2023), p. 6427-6435
ISSN: 0093-9994
DOI: 10.1109/TIA.2023.3288856
2021
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A Monolithically Integrated SiC Circuit Breaker
In: IEEE Electron Device Letters (2021)
ISSN: 0741-3106
DOI: 10.1109/LED.2021.3102935
2025
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A Novel Design Variation of a Monolithically Integrated SiC Circuit Breaker
48th MIPRO ICT and Electronics Convention, MIPRO 2025 (Opatija, 2. Juni 2025 - 6. Juni 2025)
In: Snjezana Babic, Zeljka Car, Marina Cicin-Sain, Pavle Ergovic, Tihana Galina Grbac, Vera Gradisnik, Stjepan Gros, Alan Jovic, Darko Jurekovic, Tihomir Katulic, Marko Koricic, Vedran Mornar, Juraj Petrovic, Karolj Skala, Dejan Skvorc, Vlado Sruk, Edvard Tijan, Joe S. Valacich, Neven Vrcek, Boris Vrdoljak (ed.): 2025 MIPRO 48th ICT and Electronics Convention, MIPRO 2025 - Proceedings 2025
DOI: 10.1109/MIPRO65660.2025.11131705
2022
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Influence of Non-Stoichiometric Silicon Nitride Layer Thickness on Electrical Properties and Manufacturability of 900 V Silicon RC-Snubbers
12th International Conference on Integrated Power Electronics Systems, CIPS 2022 (Berlin, DEU, 15. März 2022 - 17. März 2022)
In: ETG-Fachbericht 2022
URL: https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85136098985&origin=inward - , , , , , :
Fabrication Aspects and Switching Performance of a Self-Sensing 800 V SiC Circuit Breaker Device
34th IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs, ISPSD 2022 (Vancouver, BC, CAN, 22. Mai 2022 - 25. Mai 2022)
In: Proceedings of the International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs 2022
DOI: 10.1109/ISPSD49238.2022.9813628 - , , , , , :
Short Circuit Performance and Current Limiting Mode of a Monolithically Integrated SiC Circuit Breaker for DC Applications up to 800 v
24th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2022 ECCE Europe (Hannover, 5. September 2022 - 9. September 2022)
In: 24th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2022 ECCE Europe 2022 - , , , , , :
Adjustable Current Limit Feature with a Self-Sensing and Self-Triggering Monolithically Integrated SiC Circuit Breaker Device
2022 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, ECCE 2022
DOI: 10.1109/ECCE50734.2022.9948054
2020
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Design Considerations on a Monolithically Integrated, Self Controlled and Regenerative 900 V SiC Circuit Breaker
2020 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia, WiPDA Asia 2020 (Suita, 23. September 2020 - 25. September 2020)
In: 2020 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia, WiPDA Asia 2020 2020
DOI: 10.1109/WiPDAAsia49671.2020.9360279
2019
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Silicon RC-Snubber for 900 V Applications Utilising non-Stoichiometric Silicon Nitride
31st IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) (Shanghai, 19. Mai 2019 - 23. Mai 2019)
In: 31st International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs, NEW YORK: 2019
DOI: 10.1109/ISPSD.2019.8757589 - , , , , , :
Retrofitting Wide Band Gap Devices to classic Power Modules using Silicon RC Snubbers
2019 PCIM Europe (Nürnberg, 7. Mai 2019 - 9. Mai 2019)
URL: https://www.researchgate.net/publication/331642497_Retrofitting_Wide_Band_Gap_Devices_to_classic_Power_Modules_using_Silicon_RC_Snubbers
2018
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Heterogeneous Integration of Vertical GaN Power Transistor on Si Capacitor for DC-DC Converters
7th Electronic System-Integration Technology Conference, ESTC 2018
DOI: 10.1109/ESTC.2018.8546362
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Monolithisch integrierter Überstromschutzschalter basierend auf 4H-SiC JFET Technologie
(Projekt aus Eigenmitteln)
Project leader: ,
Term: since 1. August 2019
Acronym: SiC-DCBreakerIm Rahmen des Forschungsprojekts soll eine halbleiterbasierte elektrische Sicherung entwickelt, hergestellt und charakterisiert werden. Hierfür wird zunächst mithilfe von analytischer und numerischer Modellierung eine (Bauelement-) Zelltopologie konzipiert, die zur monolithischen Integration des Prinzips "thyristor dual" geeignet ist. Da JFETs für die Umsetzung des "thyristor dual" von Vorteil sind, wird im Anschluss die Realisierbarkeit einer 4H-SiC JFET Technologie innerhalb der am LEB/IISB zur Verfügung stehenden Reinraumumgebung nachgewiesen. Die in diesem Zuge entwickelte JFET Technologie wird zur Herstellung von Prototypen verwendet, welche dann der elektrischen Charakterisierung des neuartigen Sicherungskonzeptes dienen. Die quasi-statischen und transienten Eigenschaften der Prototypen werden im finalen Schritt denen der Simulationsmodelle und des Standes-der-Technik gegenübergestellt und diskutiert.