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Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

Dozent/in

Details

Zeit/Ort n.V.:

Vorlesung findet digital statt. Anmeldung zur Vorlesung bitte per Email an den Dozenten: peter.pichler@fau.de

  • Mo 10:15-11:45

Studienfächer / Studienrichtungen

  • WPF EEI-BA-MIK ab Sem. 5
  • WPF EEI-MA-MIK ab Sem. 1
  • WPF BPT-MA-E ab Sem. 1
  • WF EEI-BA ab Sem. 5
  • WF EEI-MA ab Sem. 1

Inhalt

Wirtschaftlicher Erfolg beim Einsatz elektronischer Bauelemente hängt unter anderem von deren Lebensdauer ab. Zu geringe Lebensdaueren führen zu überproportionalen Garantieleistungen und Ansehensverlusten der Marke, zu hohe Lebensdauern deuten auf zu hohe Produktionskosten oder zu hohe Sicherheitsreserven hin. Neben einer Einführung in die mathematische Beschreibung von Zuverlässigeitsbetrachtungen bietet die Vorlesung eine Diskussion der relevanten Ausfallmechanismen von elektronischen Bauelementen und eine Übersicht über die Fehleranalyse an ausgefallenen Bauelementen.

ECTS-Informationen

Titel

Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits

Credits

4

Zusätzliche Informationen

Schlagwörter: Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung

Erwartete Teilnehmerzahl: 10